
PMST系列功率器件靜態參數測試系統集多種測(ce)(ce)量(liang)和(he)(he)分析功(gong)能(neng)(neng)于一體(ti),不僅提(ti)供IV、CV、跨導(dao)等多元化(hua)的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)功(gong)能(neng)(neng),具(ju)備高電(dian)壓和(he)(he)大電(dian)流特性(10kV/6000A),以及μΩ級(ji)精(jing)確(que)電(dian)阻測(ce)(ce)量(liang)和(he)(he)nA級(ji)漏(lou)電(dian)流測(ce)(ce)量(liang)能(neng)(neng)力,能(neng)(neng)夠全面滿(man)足從基礎功(gong)率(lv)二極管(guan)、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導(dao)體(ti)SiC、GaN等晶(jing)圓、芯片(pian)、器(qi)件及模塊的(de)靜態(tai)參數表征和(he)(he)測(ce)(ce)試(shi)(shi)需求,為功(gong)率(lv)半導(dao)體(ti)行業提(ti)供穩(wen)定可靠的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)解(jie)決方案。

值得一提的是,PMST系列功率器件靜態參數測試系統核心的E系列高電壓源測單元、HCPL100高電流脈沖電源、P系列高精度臺式脈沖源表均由普賽斯儀(yi)表(biao)自主(zhu)研發(fa),全面突破高端國(guo)際(ji)設備技術(shu)瓶(ping)頸,實(shi)現自主(zhu)可(ke)(ke)控。模塊(kuai)化(hua)的設計使得測試(shi)方法更加靈活,用戶可(ke)(ke)以根據(ju)實(shi)際(ji)需求(qiu)添(tian)加或(huo)升(sheng)級測量(liang)模塊(kuai),適應功率(lv)器件不斷變化(hua)的測試(shi)需求(qiu)。
此外,針對操作人員安全以及適應各種功率器件封裝類型的需求,定制化的測試夾具顯得(de)尤為重(zhong)要。普賽斯儀表針對市場上多(duo)(duo)樣化的功率半導體產(chan)品(pin)(pin)封裝(zhuang)類型,提供了(le)一整套全面且(qie)精細的夾具解決方案。這些夾具不僅(jin)具備低(di)阻抗、安裝(zhuang)便捷等顯著特(te)點,而且(qie)種類繁多(duo)(duo),能夠(gou)滿足SiC單(dan)管、模組類產(chan)品(pin)(pin)的測試。





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