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專心于半導體芯片電效能檢驗

普賽斯儀表關于《SiC功率半導體模塊測試挑戰及應對》的主題演講

來歷:admin 時間:2024-07-05 17:07 瀏覽記錄量:1720
        新資源客車融入率快要達50%,加上風光電域對效率方案的的需求多多,效率方案受到注重。202歷經四年四月5日,艾邦然后屆效率半導體相關行業領域芯片芯片IGBT/SiC高新品牌化論壇網在鄭州閉幕。會議平板悅維互聯網品牌化精英型謀求趨勢之策,從新資源客車電驅與電控系統互聯網品牌化、光儲及逆變電源互聯網品牌化、類化合物半導體相關行業領域芯片芯片文件互聯網品牌化、效率半導體相關行業領域芯片芯片互聯網品牌化、封裝與測式互聯網品牌化等各個高新品牌化鏈關鍵環節入手,追尋各個突破點路勁,力促高新品牌化的科學創新與可將持續趨勢。

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        作為國內率先實現高精度數字源表(SMU)產業化的半導體測試裝備優質供應商,普賽斯儀表副總經理王承博士受邀出席并發表《SiC工率半導體材料模快測試的挑戰及避免》主題演講。

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1、逐漸光電器件設備施工工藝的維持思想進步,施工工藝施工工藝的不停增加,對光電器件設備功率器件的測試英文和驗證通過的工作日漸關鍵性。2、因為行業領域快速發展,加工廠我們對公測的業務需求由本來的CP+FT格局加密至CP+KGD test +DBC test+FT,可能還包括SLT公測等。3、怎么樣高精度自動測量電機功率電子元件在高流/超高壓前提條件下的I-V曲線方程或相關冗余特點,看上去愈發更重要。


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        會上,普賽斯儀表副總經理王承博士闡述了如何準確可靠地實現SiC功率器件的測試方案,以新能源領域車規級功率器件參數測試為切入點,分享了在新能源領域功率器件成套解決方案等方面的關鍵舉措。本場演講重點介紹了普賽斯儀表實驗室、高低溫、產線半自動/全自動等功率半導體靜態參數測試解決方案,廣泛適用于從(cong)實(shi)驗室到小批(pi)(pi)量(liang)、大(da)批(pi)(pi)量(liang)產(chan)線(xian)的全方位應用,幫助國(guo)產(chan)功(gong)率半導(dao)體(ti)廠商加快研發測試以及(ji)批(pi)(pi)量(liang)化生(sheng)產(chan)進程(cheng)。


        普賽斯功效元器件冗余主要參數各種測試系統的,是武漢普賽斯經過精心設計與打造的高精密電壓/電流測試分析系統。該系統不僅提供IV、CV、跨導等多元化(hua)的(de)測(ce)試功能,還具(ju)備高精度、寬測(ce)量范圍、模塊(kuai)(kuai)化(hua)設(she)(she)計以(yi)及便捷(jie)的(de)升級(ji)擴展等顯著(zhu)優勢。其設(she)(she)計初衷在于全面(mian)滿足(zu)從基礎功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁(jin)帶半導(dao)體SiC、GaN等晶圓(yuan)、芯片、器件及模塊(kuai)(kuai)的(de)靜(jing)態參(can)數表(biao)征和(he)測(ce)試需求(qiu),確保測(ce)量效率、一致性與可靠性的(de)優異(yi)表(biao)現。

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PMST工率元器(qi)靜態數據(ju)參數表(biao)檢驗程序


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PSS TEST冗(rong)余高超低溫(wen)半自動測試英(ying)文系統軟件


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PMST-MP 動態性能參數半會自動化自測軟件


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PMST-AP 冗余因素全(quan)自動化測量控制系統


大電流輸出響應快,無過沖


        獨立自主生產制造的高能效脈寬式大感應直流電壓大小源及高壓變壓器源,其轉換確立時積極響應更快,且無過沖問題。在測式各個環節,大感應直流電壓大小的典例變高時間間隔僅為15μs,脈寬凈寬可在50~500μs相互間靈活多變修正。采取該種脈寬大感應直流電壓大小測式技巧,就可以明顯減小因元器自我發燒所觸發的誤差度,狠抓測式的結果的明確性與穩定性。

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高壓測試支持恒壓限流,恒流限壓模式


        自主經營開發的高使用性能高壓力源,其打印輸出實現與中斷生理反應更快,且無過沖情況。在做出穿透電阻值感應電流軟件測試時,可智能化制定感應電流局限性或電阻值感應電流最大限度,以抓好機不因過壓或過流而壞損,有郊守護集成電路芯片的安全管理性和保持穩確定。

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        普賽斯儀表作為半導體電性能測試領域的權威解決方案供應商,始終秉持創新技術與匠心精神的融合,深耕于功率半導體市場。







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