
作為國內率先實現高精度數字源表(SMU)產業化的半導體測試裝備優質供應商,普賽斯儀表副總經理王承博士受邀出席并發表《SiC工率半導體材料模快測試的挑戰及避免》主題演講。

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會上,普賽斯儀表副總經理王承博士闡述了如何準確可靠地實現SiC功率器件的測試方案,以新能源領域車規級功率器件參數測試為切入點,分享了在新能源領域功率器件成套解決方案等方面的關鍵舉措。本場演講重點介紹了普賽斯儀表實驗室、高低溫、產線半自動/全自動等功率半導體靜態參數測試解決方案,廣泛適用于從(cong)實(shi)驗室到小批(pi)(pi)量(liang)、大(da)批(pi)(pi)量(liang)產(chan)線(xian)的全方位應用,幫助國(guo)產(chan)功(gong)率半導(dao)體(ti)廠商加快研發測試以及(ji)批(pi)(pi)量(liang)化生(sheng)產(chan)進程(cheng)。
普賽斯功效元器件冗余主要參數各種測試系統的,是武漢普賽斯經過精心設計與打造的高精密電壓/電流測試分析系統。該系統不僅提供IV、CV、跨導等多元化(hua)的(de)測(ce)試功能,還具(ju)備高精度、寬測(ce)量范圍、模塊(kuai)(kuai)化(hua)設(she)(she)計以(yi)及便捷(jie)的(de)升級(ji)擴展等顯著(zhu)優勢。其設(she)(she)計初衷在于全面(mian)滿足(zu)從基礎功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁(jin)帶半導(dao)體SiC、GaN等晶圓(yuan)、芯片、器件及模塊(kuai)(kuai)的(de)靜(jing)態參(can)數表(biao)征和(he)測(ce)試需求(qiu),確保測(ce)量效率、一致性與可靠性的(de)優異(yi)表(biao)現。

PMST工率元器(qi)靜態數據(ju)參數表(biao)檢驗程序

PSS TEST冗(rong)余高超低溫(wen)半自動測試英(ying)文系統軟件

PMST-MP 動態性能參數半會自動化自測軟件

PMST-AP 冗余因素全(quan)自動化測量控制系統
大電流輸出響應快,無過沖

高壓測試支持恒壓限流,恒流限壓模式

普賽斯儀表作為半導體電性能測試領域的權威解決方案供應商,始終秉持創新技術與匠心精神的融合,深耕于功率半導體市場。
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