普賽斯PL 系列作品窄脈沖激光電壓源可用于 VCSEL 基本它需求窄脈沖發(fa)生器激勁的測試英文場面(mian)。

PL 系類的設(she)備有幾個入口：

① 、恒流脈沖(chong)發生器激烈源，并能一起自動測量待(dai)測元器件封裝的兩(liang)端(duan)輸出功率；

② 、電(dian)脈沖信號(hao)電(dian)壓檢(jian)測車(che)道，相當不適代(dai)替(ti)通過(guo)外置PD 的形式(shi)檢(jian)測電(dian)脈沖信號(hao)光耗油率；

PL 題材主設備能(neng)輸出低于那(nei)些(xie)弧形(xing)圖(tu)：弧形(xing)圖(tu)的幅(fu)度過(guo)、步進電機值、脈沖激光(guang)最大(da)數等均(jun)可程控(kong)。

① 、直流電壓恒流；

② 、直流電(dian)源掃視電(dian)壓；

③ 、激光脈沖直流電源電流值；

④ 、脈沖(chong)造成的掃描拍(pai)照(zhao)電壓；

采用(yong)(yong)(yong)普(pu)賽斯PL 類型(xing)窄脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)光(guang)(guang)(guang)(guang)行業(ye)(ye)(ye)LIV測驗方(fang)法英文(wen)系(xi)統軟件(jian)食用(yong)(yong)(yong)測驗方(fang)法英文(wen)框圖(tu)正確：主要(yao)的(de)有(you) PL 類型(xing)機械設備(bei)、專用(yong)(yong)(yong)接觸線、測驗方(fang)法英文(wen)板、會(hui)員(yuan)會(hui)員(yuan)會(hui)員(yuan)積分球、待測脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)光(guang)(guang)(guang)(guang)行業(ye)(ye)(ye)器、光(guang)(guang)(guang)(guang)收發 PD 組合而(er)(er)成。 VCSEL 脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)光(guang)(guang)(guang)(guang)行業(ye)(ye)(ye)器普(pu)遍所在光(guang)(guang)(guang)(guang)熱(re)(re)(re)效(xiao)率很多，而(er)(er) PD 的(de)收發熱(re)(re)(re)效(xiao)率較小，需(xu)采用(yong)(yong)(yong)會(hui)員(yuan)會(hui)員(yuan)會(hui)員(yuan)積分器食用(yong)(yong)(yong)光(guang)(guang)(guang)(guang)熱(re)(re)(re)效(xiao)率的(de)衰減(jian)，的(de)同時會(hui)員(yuan)會(hui)員(yuan)會(hui)員(yuan)積分球的(de)條(tiao)件(jian)反射屬性(xing)使(shi)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)光(guang)(guang)(guang)(guang)行業(ye)(ye)(ye)器系(xi)統軟件(jian)對脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)光(guang)(guang)(guang)(guang)行業(ye)(ye)(ye)器光(guang)(guang)(guang)(guang)入射角并非是越來(lai)越刺激性(xing)。

的(de)(de)(de)(de)(de)設備效果有(you)一下多(duo)少的(de)(de)(de)(de)(de)的(de)(de)(de)(de)(de)電磁波(bo)：LD+ 、 LD- 、 S+ 、 S- 、 PD+ 、 PD- ，各舉 LD+ 、 LD- 為(wei)(wei)恒流(liu)源效果激(ji)厲的(de)(de)(de)(de)(de)的(de)(de)(de)(de)(de)電磁波(bo)， S+ 、 S- 為(wei)(wei)待(dai)測電子器件電壓(ya)降在測量(liang)(liang)方法(fa)的(de)(de)(de)(de)(de)的(de)(de)(de)(de)(de)電磁波(bo)， PD+ 、 PD- 為(wei)(wei)外置(zhi) PD 在測量(liang)(liang)方法(fa)的(de)(de)(de)(de)(de)的(de)(de)(de)(de)(de)電磁波(bo)。

為 保障警報內容輸出質，PL 系專用設備應(ying)該食(shi)用普賽(sai)斯自(zi)定(ding)義的特定(ding)連結(jie)線(xian)，而且從檢(jian)查儀板到待測配件要盡可(ke)能抑制連線(xian)，盡量簡(jian)單將配件焊(han)接加工于檢(jian)查儀板上(shang)或(huo)食(shi)用 socket 。

為(wei)以(yi)確(que)保待測電(dian)子元器的電(dian)壓試驗(yan)的精準性，S+ 、 S- 要有在(zai)(zai)待測電(dian)子元器引(yin)腳(jiao)背短接至 LD+ 、 LD- ，請(qing)務須將 S+ 、 S- 進(jin)行連接至待測電(dian)子元器引(yin)腳(jiao)背，不應立即在(zai)(zai)試驗(yan)板上自由短接。